Intel introduceert systeem om hele quantum-wafers in één keer te testen

8 reacties

Een van de huidige problemen bij het in massaproductie nemen van quantum-processors is het testen van de chips. Momenteel gebeurt dat hoofdzakelijk in een speciale 'koelkast', enkele graden boven het absolute nulpunt. Deze testen nemen echter maanden in beslag, waardoor een productieoptimalisatie vaak niet snel genoeg kan doorgevoerd worden.

Om deze reden benaderde Intel het Finse bedrijf Bluefors, dat overigens een afdeling op de TU Delft heeft, dat op zijn beurt dan weer in zee ging met een ander Fins bedrijf, Afore. Samen ontwikkelden de bedrijven de "Cryogenic Wafer Prober", een apparaat dat hele wafers van 300 mm in één keer kan testen.

De eerste cryoprober zal op Intel's campus in Oregon geplaatst worden, naast een aantal van de speciale 'koelkasten'. Het apparaat verzamelt informatie zoals quantum noise, de kwaliteit van de quantum dots en de materialen die nodig zijn om qubits te vormen in enkele minuten, in plaats van de gebruikelijk weken die dit normaal gezien in beslag zou nemen.

In een eerste demonstratie mat Intel de turn-on karakteristiek van meer dan 100 qubit-structuren, waarvan de grafiek hieronder terug te vinden is.


De Cryogenic Wafer Prober


De turn-on karakteristiek van een honderdtal qubit-structuren

Bron: Intel

« Vorig bericht Volgend bericht »
0
*