GEIL burn-in test voor geheugenmodules

18 reacties

De meeste overklokkers hebben wel eens gehoord van het verhaal dat bepaalde computeronderdelen zoals geheugen en processors beter overklokbaar zijn na een korte burn-in test met een hogere omgevingstemperatuur en een hoger voltage op de chips. Of dit ook echt zo is heeft men nog nooit grondig uitgezocht, maar de mensen bij geheugenmerk GEIL geloven er in ieder geval wel in. Zij lieten op de Computex een testopstelling zien waarin de geheugenmodules een 'Diehard Burn-in Test' ondergingen. Bij deze tests, afgekort tot DBT, wordt het geheugen belast onder een hogere omgevingstemperatuur en bij een verhoogd voltage.

thumb

Burn-in test vraagt het uiterste van de geheugenmodules

Volgens GEIL is dit een goede test voor de geheugenmodules en zouden ze de consument de tijd besparen om zelf een burn-in test op de modules te doen. De geheugenmodules van GEIL die deze burn-in achter de rug hebben zullen in de winkel komen te liggen met het DBT Enhanced certificering. Het logo ziet er als volgt uit.

thumb

Afbeeldingen afkomstig van TweakTown

Bronnen: Bit-Tech, Tweaktown (PDF)

« Vorig bericht Volgend bericht »
0
*